Mit den neuen Weißlicht-Interferometern TMS-100/120 TopMap Master kann der Anwender Topographien von Bauteilen mit einer Höhenauflösung von wenigen Nanometern optisch erfassen. Der Preis des Modells ist vergleichbar mit dem einer taktilen Messmaschine. Die Modelle erfassen große Flächen berührungsfrei und schnell. Auch weiche oder empfindliche Oberflächen lassen sich zerstörungsfrei vermessen. Höhenabstände, Parallelität, Rauheitsparameter, Welligkeiten, Traganteile und Ebenheiten kann der Anwender sofort bestimmen. Das System liefert eine 3D-Visualisierung der gemessenen Oberfläche und ausgewählter Oberflächenparameter. Lange Messzeiten wie bei taktilen Flächenmessungen gehören laut Hersteller damit der Vergangenheit an.
Polytec, Waldbronn, Tel. (07243) 604-0
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