Ein Werkzeug im Nanometermaßstab hat ein Wissenschaftler-Team der Gesamthochschule Kassel (GHK) mit US-Forschern entwickelt. Ihr Thermometer soll Fehler entdecken, die durch Temperaturunterschiede auf Mikrochips entstehen können. Ein Draht von rund 100 nm Durchmesser arbeitet als Thermoschleife, deren elektrischer Widerstand von der Temperatur abhängt. Unterschiede von 1/1000 °C sollen nachweisbar sein.
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