Oberflächenmesstechnik | Mit den berührungslosen optischen Topografie-Messsystemen der Topmap-Familie von Polytec (Halle 1, Stand 1812) lassen sich Formabweichung und Rauheit in einem bestimmen. Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen, Parallelität oder Rauheit bietet das Portfolio kundenspezifische Lösungen. Dabei fallen unter anderem das große Messfeld, um sogenanntes Stitching (nachträgliches Zusammenfügen mehrerer Einzelbilder) zu umgehen, die telezentrische Optik, um schwer zugängliche Bereiche zu erfassen, sowie die hohe vertikale Auflö-
sung unabhängig von Bildfeldgrößen auf. Das All-in-One-System trägt den Namen Pro Surf+.
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