Das konfokale Laser-Scanning-Mikroskop LSM 5 Pascal eignet sich für Materialforschung und Qualitätskontrolle. Verschiedene Hard- und Softwareerweiterungen bieten neue Funktionen für die quantitative Oberflächenanalyse und Material- charakterisierung. Das Mikros-kop ist jetzt zusätzlich auf Basis von drei neuen Mikroskopstativen erhältlich. Damit ist die berührungslose 3D-Materialanalyse auch bei großflächigen oder unförmigen Proben möglich. Mit Piezotechnologie lassen sich Höhenstufen im Nanometerbereich präzise messen. Die Softwareoption Stitchart soll die hochaufgelöste Aufnahme langer Profile und ausgedehnter Topographien weit über das mikroskopische Scanfeld hinaus erlauben. Ein Topographie-Paket optimiert die optische 2D- und 3D-Oberflächenanalyse.
Carl Zeiss Jena GmbH, Jena
Halle 6, Stand E04
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