Die Baureihen Topmap und Topsens prüfen mit optischen Messverfahren die Oberflächentopografie und kennzeichnende Oberflächenparameter von mechanischen, optischen und elektronischen Komponenten und Werkstücken. Sie bieten ein breites Lösungsspektrum für unterschiedlichste Anwendungen in der industriellen Qualitätssicherung als auch in der Produktentwicklung. So lassen sich neben Linienprofilen auch die flächenhafte Erfassung von 3D-Messdaten vornehmen. Für die TMS-Software zur Erfassung und Auswertung von Oberflächenmessdaten stehen mit den optionalen Programmpakten TMS-Report, Report+ und Report Premium zusätzliche Auswerteoptionen zur Verfügung. Für die Analyse der Linienmessdaten von Topsens-Punktsensoren steht mit TMS-Report Profile ebenfalls ein spezielles Programmpaket zur Verfügung.
Polytec, Waldbronn, Tel. (07243) 604-368
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